仪器测量原理
该仪器为直角坐标测量法,触针接触式。X轴采用高精密的直线导轨为基准,Z1轴采用数字传感器,测绘出被测零件的表面轮廓形状的坐标点,通过计算机的软件对传感器采集的原始数据进行数学运算处理,标注所需的测量项目。
测量功能
尺寸:包含水平距离、垂直距离、线性距离、半径、直径
夹角:包含水平角、垂直角、夹角
位置公差:包含平行度、垂直度
形状公差:包含直线度、凸度、圆弧轮廓度
辅助生成:包含辅助点、辅助线、辅助圆
粗糙度分析:Ra、Rq、Rz、Rp、Rt、Rsk、Rsm、Rc、Rz(DIN)、R3z、Rz(jis)、Rpmax
Rpm、Rku、Rdq/R△q、RδC、Mr1、Mr2、Rpk、Rvk、Rk、Rdc、A1、A2
Rx、AR、Rpc、Rmax、Rz-ISO、4um、Ry
波纹度分析:Wt、Wa、Wp、Wv、Wq、Wc、Wku、Wsk、W、Wx、Wz、Wsm、Wdc、Wte
Wmr、Aw、C(Wmr)、Wmr(C)、Wdq/W△q
原始轮廓分析:Pt、Pa、Pp、Pv、Pq、Pc、Pku、Psk、Pdq/p-q、Psm、Pdc、Pmr(c)、Pz
Pmr、C(pmr)
技术参数
项目 | 参数 | ||
测量范围 | X轴驱动器 | 100mm | |
Z1(传感器) 粗糙度和轮廓共用 | 40mm | ||
立柱高度 | 500mm | ||
指示精度 | X轴 (L=X轴移动导轨距离) | ±(0.8+0.01L)μm | |
Z1轴 (H=Z1轴方向测量高度) | ±(0.8+0.02H)μm | ||
残值轮廓 | ≤0.005μm | ||
示值误差 | ≤±(5nm+0.1A) | ||
重复性 | 1δ≤2nm | ||
角度 | ≤±3′ | ||
圆弧 (R=标准圆弧值) | ≤±(1.0+R/12)μm | ||
X轴驱动器 | 直线度 | 0.8μm /100mm | |
分辨率 | 0.05μm | ||
Z1传感器 轮廓/粗糙度共用 | 类型 | 光栅传感器 | |
分辨率 | 0.01μm | ||
轮廓/粗糙度共用测针 | 25μm 12° | ||
测针材质 | 硬质合金 | ||
粗糙度专用测针 | 5μm 60° | ||
测针材质 | 金刚石 | ||
评定长度 | λc×3、4、5、6、7 | ||
截止波长 | 0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm | ||
测量方式 | 传感器移动 | ||
运动控制 | 导轨速度 | 0.02mm至6mm/s | |
立柱移动速度 | 0.1mm至10mm/s | ||
测量速度 | 0.02mm至5.0mm/s | ||
技术亮点
无需转换传感器、测针;实现一次测量 粗糙度、波纹度、轮廓同时分析
一次测量,可分析工件不同区域粗糙度,波纹度,提高测量效率
可测量细微部位、深孔、深槽部位的粗糙度、波纹度
X轴采用直线导轨,无磨损,精度高,寿命长
Z1轴采用进口数字式传感器,精度高、线性好
简易的测针更换设计,一次安装,无需校正
软件支持中英文一键切换
支持win7、win10系统
软件标注与CAD标注一样
圆弧、线自动识别
支持DXF格式文件导入、导出,定制CAD格式导出
支持连续标注、基准标注、支持任意插入点
支持图形自由旋转及坐标自由旋转
原始数据自动保存,便于多次标注
镜像功能,可保存标注后文件
可对X、Z1轴当前位置进行监控
具有测针自动接触、自动抬起、自动回退功能
可以对操作进行无限次的撤销及恢复操作
即使在非比例放大的情况下,也能进行正常的角度、圆弧、水平、垂直、线性等标注。
设备尺寸

使用要求
功率需求: AC 220V±10% 50Hz
环境要求:温度(T):10~30℃;相对湿度(RH):<85%
安装地点无明显振源
单独地线